Microscopie électronique à balayage (MEB)

Zeiss Gemini 500

Cryo-microscope électronique à balayage à émission de champ et pression contrôlée (cryo-FE-VPSEM) de dernière génération équipé du système cryogénique commercialisé par Leica. Muni de détecteurs in-lens SE et BSE, l’instrument permet des observations à très haute résolution (<0.8 nm) et très basse tension (<100 V), et ce jusqu’à une température de -150°C. L’équipement inclut également des détecteurs SE, low-vacuum SE, BSE et STEM (pour l’imagerie BF, DF, and HAADF), ainsi qu'un détecteur SDD-EDX X-Max de 150 mm2 d'Oxford Instruments.

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Tescan Mira II LMU

Microscope électronique à balayage à émission de champ (Schottky-FE-SEM) équipé de détecteurs SE, in-lens SE et BSE. Les analyses chimiques in-situ sont assurées par un détecteur SDD X-ray (Ultim Max de Oxford Instruments) et les analyses EBSD par le détecteur Symmetry (Oxford Instruments), tous deux pilotés par le package AZtec 6 (Oxford Instruments). Observations sous atmosphère contrôlée possible en mode BSE.
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CamScan MV2300

Microscope électronique à balayage muni d'une source thermoïonique (filament de W) et équipé de détecteurs SE, low-vacuum SE et BSE, ainsi que d'un détecteur EDX Penta-FET d'Oxford Instruments. L'appareil permet également d'acquérir des images en cathodoluminescence panchromatique (pan-CL) et de faire des analyses volumiques 3D par microtomographie à rayons-X (SEM micro-CT) grâce au système fourni par Bruker.

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